2024-10-10 科技 0
核心参数 质量分辨率26000 质量分析范围> 12000 u 原始束流或速能量0-30kV 仪器种类飞行时间 产品介绍 全新 M6 — — 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）科技 M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）仪器，对一次离子源（LMIG）和质量分析器（TOF Analyser）进行了突破性的改进。 此外，在硬件方面还增加了 MS/MS 功能选项，重新设计了加热和冷却系统；在软件方面新增了多元统计分析（MVSA）软件包。其设计保证了 SIMS 应用在所有领域的性能。 新的突破性离子束和质量分析器技术使 M6 成为二次离子质谱（SIMS）仪器中的耀眼光芒、工业和学术研究的理想工具。 全新 M6 具有以下突出优势： 1新型Nanoprobe 50具有高横向分辨率(< 50=> 2质量分辨率> 30,000 3的延迟提取模式可同时实现高传输，高横向质量 4 广域的动态范围和检测限 5用于阐明分子结构具有CID片段功能的TOF MS/MS 6智能的SurfaceLab 7软件，包括集成的多元统计分析(MVSA)软件包 7新型灵活按钮式闭环样品加热和冷却系统，可长期无人值守运行
